微納米CT機(jī)（微納米計(jì)算機(jī)斷層掃描儀）是一種融合微納米級焦點(diǎn)X射線源與高精度探測系統(tǒng)的先進(jìn)成像設(shè)備，其核心突破在于將傳統(tǒng)CT的分辨率提升至微米至納米量級，成為材料科學(xué)、生物醫(yī)學(xué)、地質(zhì)考古等領(lǐng)域微觀結(jié)構(gòu)解析的關(guān)鍵工具。其通過發(fā)射微納米級焦點(diǎn)（直徑通常小于1微米）的X射線束穿透樣品，利用探測器接收不同角度的透射信號，結(jié)合計(jì)算機(jī)斷層重建算法生成三維圖像。

　　微納米CT機(jī)的操作流程：

　　一、操作前準(zhǔn)備

　　環(huán)境檢查：

　　確認(rèn)設(shè)備運(yùn)行環(huán)境符合要求：溫度（通常20-25°C）、濕度（40-60%）、無振動(dòng)、無強(qiáng)電磁干擾。

　　確保設(shè)備（特別是X射線源和探測器）處于穩(wěn)定狀態(tài)（預(yù)熱）。

　　樣品準(zhǔn)備：

　　尺寸與重量：確認(rèn)樣品尺寸和重量在設(shè)備樣品臺(tái)的承載范圍內(nèi)。

　　固定：使用合適的夾具（如雙面膠、泡沫、專用樣品夾）將樣品牢固、穩(wěn)定地固定在樣品臺(tái)上。樣品必須在掃描過程中保持絕對靜止，任何微小移動(dòng)都會(huì)導(dǎo)致圖像模糊。

　　清潔：確保樣品表面干凈，無灰塵、油污等。

　　安全性：確認(rèn)樣品無放射性、無強(qiáng)腐蝕性、無揮發(fā)性（或已密封），不會(huì)損壞設(shè)備或危害操作人員。

　　個(gè)人防護(hù)：

　　穿戴必要的個(gè)人防護(hù)裝備（如鉛圍裙、鉛眼鏡，根據(jù)設(shè)備輻射水平要求）。

　　確認(rèn)掃描室門已關(guān)閉，安全聯(lián)鎖裝置有效。

　　二、樣品裝載與定位

　　打開掃描室：按照規(guī)程打開設(shè)備防護(hù)門或艙蓋。

　　安裝樣品臺(tái)：將裝有樣品的樣品臺(tái)小心地安裝到旋轉(zhuǎn)臺(tái)（轉(zhuǎn)臺(tái)）上，并確保安裝到位、鎖緊。

　　關(guān)閉掃描室：仔細(xì)關(guān)閉并鎖好防護(hù)門/艙蓋。

　　三、軟件啟動(dòng)與系統(tǒng)初始化

　　啟動(dòng)控制軟件：打開計(jì)算機(jī)，啟動(dòng)設(shè)備專用的CT控制與重建軟件（如Zeiss Scout-and-Scan,Bruker CTVox,Nikon CT Pro等）。

　　系統(tǒng)連接：軟件啟動(dòng)后，檢查是否成功連接到X射線源、探測器、旋轉(zhuǎn)臺(tái)等硬件。

　　系統(tǒng)預(yù)熱/穩(wěn)定（如需要）：部分設(shè)備可能需要短暫的預(yù)熱或穩(wěn)定時(shí)間。

　　四、掃描參數(shù)設(shè)置與預(yù)覽

　　X射線源設(shè)置：

　　電壓(kV)：根據(jù)樣品的材質(zhì)和厚度選擇。高密度/厚樣品需要更高電壓。

　　電流(μA)：影響X射線強(qiáng)度和圖像信噪比。與電壓共同決定功率。

　　焦點(diǎn)尺寸：選擇微焦點(diǎn)或納米焦點(diǎn)，影響分辨率。

　　探測器設(shè)置：

　　積分時(shí)間/曝光時(shí)間：影響圖像亮度和信噪比。時(shí)間越長，信噪比越好，但掃描時(shí)間也越長。

　　分辨率模式：選擇探測器的像素binning模式（如1x1,2x2），直接影響圖像分辨率和視野（FOV）。

　　掃描幾何設(shè)置：

　　放大倍數(shù)：通過調(diào)整樣品到X射線源（SOD）和樣品到探測器（SDD）的距離來控制。放大倍數(shù)=SDD/SOD。更高的放大倍數(shù)帶來更高分辨率，但視野更小。

　　掃描角度范圍：通常為180°或360°。360°可獲得更完整的數(shù)據(jù)，減少偽影。

　　投影數(shù)(Projections)：采集的二維圖像數(shù)量。數(shù)量越多，重建質(zhì)量越高，但掃描時(shí)間越長（通常500-3000張）。

　　預(yù)覽（Preview/Live View）：

　　啟動(dòng)低劑量的實(shí)時(shí)成像模式。

　　觀察樣品在探測器上的位置和亮度。

　　調(diào)整樣品位置：通過軟件控制的XYZ平移臺(tái)，將樣品的感興趣區(qū)域（ROI）精確移動(dòng)到旋轉(zhuǎn)中心（軸心）。

　　調(diào)整焦點(diǎn)位置：確保樣品位于X射線束的中心，并處于最佳焦平面。

　　優(yōu)化對比度：微調(diào)kV、μA、曝光時(shí)間，使圖像灰度分布合理（避免過曝或欠曝）。

　　五、正式掃描

　　確認(rèn)參數(shù)：再次檢查所有掃描參數(shù)是否正確。

　　啟動(dòng)掃描：點(diǎn)擊“開始掃描”或類似按鈕。

　　監(jiān)控過程：在掃描過程中，觀察軟件界面，監(jiān)控掃描進(jìn)度、X射線源和探測器狀態(tài)。嚴(yán)禁打開掃描室門。

　　掃描完成：掃描結(jié)束后，軟件通常會(huì)提示。X射線源自動(dòng)關(guān)閉。

　　六、圖像重建

　　選擇重建算法：通常使用濾波反投影（FBP）算法。對于低劑量或稀疏數(shù)據(jù)，可選擇迭代重建算法。

　　設(shè)置重建參數(shù)：

　　重建體大小：決定三維體數(shù)據(jù)的分辨率（體素大小）。

　　濾波器：選擇適當(dāng)?shù)木矸e核（如漢寧、漢明濾波器）以優(yōu)化圖像質(zhì)量，減少偽影。

　　中心位置校正（可選）：如果軸心未完q對準(zhǔn)，可進(jìn)行微調(diào)。

　　開始重建：啟動(dòng)重建程序。重建時(shí)間取決于數(shù)據(jù)量和計(jì)算機(jī)性能，可能從幾分鐘到幾小時(shí)不等。

　　查看結(jié)果：重建完成后，加載三維數(shù)據(jù)，在軟件中查看橫斷面、冠狀面、矢狀面圖像，檢查圖像質(zhì)量（清晰度、偽影、噪聲）。

　　七、后處理與分析

　　圖像處理：

　　降噪：應(yīng)用高斯濾波、中值濾波等去除噪聲。

　　增強(qiáng)：調(diào)整窗寬窗位，優(yōu)化對比度。

　　分割：使用閾值、區(qū)域生長等方法將不同相（如孔隙、基體、夾雜物）分離出來。

　　三維可視化：對分割后的數(shù)據(jù)進(jìn)行三維渲染，生成直觀的立體圖像。

　　定量分析：

　　測量體積、表面積、孔隙率、孔徑分布、壁厚、裂紋長度等。

　　進(jìn)行顆粒分析（粒徑、形狀）。

　　數(shù)據(jù)導(dǎo)出：將重建的體數(shù)據(jù)、分析結(jié)果、圖像或視頻導(dǎo)出為所需格式（DICOM,TIFF,STL,CSV等）。

　　八、結(jié)束操作

　　卸載樣品：掃描室門打開后，小心取下樣品和樣品臺(tái)。

　　清理：清理樣品臺(tái)，保持設(shè)備清潔。

　　關(guān)閉軟件與設(shè)備：按規(guī)程關(guān)閉控制軟件和設(shè)備電源（如果需要）。

　　記錄：詳細(xì)記錄本次實(shí)驗(yàn)的參數(shù)、樣品信息、操作人員和結(jié)果，形成實(shí)驗(yàn)日志。